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Static SIMS Handbook of Polymer Analysis : A Reference Book of Standard Data for Identification and Interpretation of Static SIMS Data
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Static SIMS Handbook of Polymer Analysis : A Reference Book of Standard Data for Identification and Interpretation of Static SIMS Data

Eden Prairie : PERKIN-ELMER CORPORATION, 1991

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2
Secondary Ion Mass Spectrometry : A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis
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Secondary Ion Mass Spectrometry : A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis

Wiley, 1989

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Etude par ToF-SIMS de la chimisorption des molécules organiques sur les surfaces métalliques

Delamare, François

ENSMP, 1999

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4
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Monitoring and quantification on solid support of a by-product formation during peptide synthesis by Tof-SIMS

ENJALBAL, Christine ; MAUX, D. ; SUBRA, G. ; COMBARIEU, Robert ; AUBAGNAC, Jean-Louis

ENSMP, 1999

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5
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About SIMS analysis of organic materials

COMBARIEU, Robert ; Aucouturier, Marc ; Darque-Ceretti, Evelyne (1949-....)

ENSMP, 1999

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6
Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends
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Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

Benninghoven, Alfred ; Rüdenauer, F.G ; Werner, H.W

New York etc. : Wiley-Interscience, 1987

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7
Handbook of static secondary ion mass spectrometry
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Handbook of static secondary ion mass spectrometry

Briggs, David ; Brown, Alan ; Vickerman, John C

Chichester etc. : J. Wiley, 1989

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8
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Tribochimie du laminage : apport de la spectrométrie de masse ToF-SIMS

DAUCHOT, Gilles ; COMBARIEU, Robert ; REPOUX, Monique ; DESSALCES, G. ; Delamare, François

ENSMP, 1999

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Imaging time-of-flight secondary ion mass spectrometry of solid-phase peptide syntheses

AUBAGNAC, Jean-Louis ; ENJALBAL, Christine ; DROUOT, C. ; COMBARIEU, Robert ; MARTINEZ, Jean

ENSMP, 1999

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Characterization of the surface organization of nanostructured hybrid organic-inorganic materials by time-of-flight secondary ion mass spectrometry

CERVEAU, Geneviève ; CORRIU, Robert J.P. ; DABOSI, Josiane ; FISCHMEISTER-LEPEYTRE, Cédric ; COMBARIEU, Robert

ENSMP, 1999

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11
Practical surface analysis. Volume 2. Ion and neutral spectroscopy
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Practical surface analysis. Volume 2. Ion and neutral spectroscopy

Briggs, David (1948-...) ; Seah, M. P.

Chichester New York Aarau Frankfurt am Main : Wiley Salle + Sauerländer, 1992

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12
Methods of surface analysis
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Methods of surface analysis

Amsterdam : Elsevier, 1975

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13
Secondary ion mass spectrometry : proceedings of the ninth International conference on secondary mass spectrometry, SIMS IX, Yokohama, Japan, 7-12 November, 1993
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Secondary ion mass spectrometry : proceedings of the ninth International conference on secondary mass spectrometry, SIMS IX, Yokohama, Japan, 7-12 November, 1993

International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 9th Yokohama, Japan 1993 ; Benninghoven, A. (1932-) Alfred

New York : Wiley, 1994

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14
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La spectrométrie de masse d'ions secondaires, son apport à l'étude des réactions de surface : approche théorique et expérimentale

DAUCHOT, Gilles

Sophia-Antipolis : ENSMP, 1997

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15
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Thèse
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Tribochimie du laminage à froid des aciers bas carbone et des alliages d'aluminium : étude par ToF-SIMS de la chimisorption des additifs de la lubrification

DAUCHOT, Gilles

Sophia-Antipolis : ENSMP, 1999

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16
Electron microscopy.1980.vol.3 : Analysis
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Electron microscopy.1980.vol.3 : Analysis

Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980

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17
Microbeam and nanobeam analysis
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Microbeam and nanobeam analysis

Wien : Springer verlag, 1996

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18
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Microstructural and microanalytical techniques in materials science

Les Ulis : Editions de physique, 1995

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19
Microscopy of oxidation 2 : proceedings of the Second International Conference on the Microscopy of Oxidation, held at Selwyn College, University of Cambridge, 29-31 March 1993
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Microscopy of oxidation 2 : proceedings of the Second International Conference on the Microscopy of Oxidation, held at Selwyn College, University of Cambridge, 29-31 March 1993

International Conference on the Microscopy of Oxidation International Conference on the Microscopy of Oxidation 2nd Cambridge, England 1993 ; Bennett, M. J. (1933-) Michael John ; Newcomb, S. B. ; Institute of Materials Materials Science Committee London, England ; Institute of Physics Great Britain ; Royal Microscopical Society GB

London : Institute of Materials, 1993

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20
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ICXOM 11 = International congres on X-ray optics and microanalysis.11

S.l. : S.n., 1987

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