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Static SIMS Handbook of Polymer Analysis : A Reference Book of Standard Data for Identification and Interpretation of Static SIMS Data
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Static SIMS Handbook of Polymer Analysis : A Reference Book of Standard Data for Identification and Interpretation of Static SIMS Data

Eden Prairie : PERKIN-ELMER CORPORATION, 1991

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2
Secondary Ion Mass Spectrometry : A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis
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Secondary Ion Mass Spectrometry : A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis

Wiley, 1989

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Etude par ToF-SIMS de la chimisorption des molécules organiques sur les surfaces métalliques

Delamare, François

ENSMP, 1999

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Monitoring and quantification on solid support of a by-product formation during peptide synthesis by Tof-SIMS

ENJALBAL, Christine ; MAUX, D. ; SUBRA, G. ; COMBARIEU, Robert ; AUBAGNAC, Jean-Louis

ENSMP, 1999

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5
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About SIMS analysis of organic materials

COMBARIEU, Robert ; Aucouturier, Marc ; Darque-Ceretti, Evelyne (1949-....)

ENSMP, 1999

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6
Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends
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Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

Benninghoven, Alfred ; Rüdenauer, F.G ; Werner, H.W

New York etc. : Wiley-Interscience, 1987

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7
Handbook of static secondary ion mass spectrometry
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Handbook of static secondary ion mass spectrometry

Briggs, David ; Brown, Alan ; Vickerman, John C

Chichester etc. : J. Wiley, 1989

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8
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Tribochimie du laminage : apport de la spectrométrie de masse ToF-SIMS

DAUCHOT, Gilles ; COMBARIEU, Robert ; REPOUX, Monique ; DESSALCES, G. ; Delamare, François

ENSMP, 1999

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9
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Imaging time-of-flight secondary ion mass spectrometry of solid-phase peptide syntheses

AUBAGNAC, Jean-Louis ; ENJALBAL, Christine ; DROUOT, C. ; COMBARIEU, Robert ; MARTINEZ, Jean

ENSMP, 1999

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Characterization of the surface organization of nanostructured hybrid organic-inorganic materials by time-of-flight secondary ion mass spectrometry

CERVEAU, Geneviève ; CORRIU, Robert J.P. ; DABOSI, Josiane ; FISCHMEISTER-LEPEYTRE, Cédric ; COMBARIEU, Robert

ENSMP, 1999

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11
Practical surface analysis. Volume 2. Ion and neutral spectroscopy
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Practical surface analysis. Volume 2. Ion and neutral spectroscopy

Briggs, David (1948-...) ; Seah, M. P.

Chichester New York Aarau Frankfurt am Main : Wiley Salle + Sauerländer, 1992

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12
Methods of surface analysis
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Methods of surface analysis

Amsterdam : Elsevier, 1975

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13
Secondary ion mass spectrometry : proceedings of the ninth International conference on secondary mass spectrometry, SIMS IX, Yokohama, Japan, 7-12 November, 1993
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Secondary ion mass spectrometry : proceedings of the ninth International conference on secondary mass spectrometry, SIMS IX, Yokohama, Japan, 7-12 November, 1993

International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 9th Yokohama, Japan 1993 ; Benninghoven, A. (1932-) Alfred

New York : Wiley, 1994

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14
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La spectrométrie de masse d'ions secondaires, son apport à l'étude des réactions de surface : approche théorique et expérimentale

DAUCHOT, Gilles

Sophia-Antipolis : ENSMP, 1997

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15
Electron microscopy.1980.vol.3 : Analysis
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Electron microscopy.1980.vol.3 : Analysis

Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980

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16
Microbeam and nanobeam analysis
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Microbeam and nanobeam analysis

Wien : Springer verlag, 1996

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17
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Microstructural and microanalytical techniques in materials science

Les Ulis : Editions de physique, 1995

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18
Microscopy of oxidation 2 : proceedings of the Second International Conference on the Microscopy of Oxidation, held at Selwyn College, University of Cambridge, 29-31 March 1993
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Microscopy of oxidation 2 : proceedings of the Second International Conference on the Microscopy of Oxidation, held at Selwyn College, University of Cambridge, 29-31 March 1993

International Conference on the Microscopy of Oxidation International Conference on the Microscopy of Oxidation 2nd Cambridge, England 1993 ; Bennett, M. J. (1933-) Michael John ; Newcomb, S. B. ; Institute of Materials Materials Science Committee London, England ; Institute of Physics Great Britain ; Royal Microscopical Society GB

London : Institute of Materials, 1993

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19
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ICXOM 11 = International congres on X-ray optics and microanalysis.11

S.l. : S.n., 1987

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20
Fundamentals of surface and thin film analysis
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Fundamentals of surface and thin film analysis

Feldman, Leonard C. ; Mayer, James W. (1930-....)

New York N. Y., etc. : North -Holland, 1986

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  1. COMBARIEU, Robert  (6)
  2. DAUCHOT, Gilles  (3)
  3. Aucouturier , Marc  (2)
  4. AUBAGNAC, Jean-Louis  (2)
  5. École nationale supérieure des mines, Paris  (2)
  6. Centre de Mise en Forme des Matériaux ( CEMEF ) ; Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -PSL Research University ( PSL ) -MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris  (2)
  7. ENJALBAL, Christine  (2)
  8. Darque-Ceretti , Evelyne  (2)
  9. Delamare, François  (2)
  10. Centre de recherche et de restauration des musées de France ( C2RMF ) ; Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Ministère de la Culture et de la Communication ( MCC )  (2)
  11. Lehuédé , Patrice  (2)
  12. École d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage 372163, 1978, Saint-Martin-d'Hères  (1)
  13. Corfu, Fernando  (1)
  14. Valley, John W  (1)
  15. Centre de Mise en Forme des Matériaux ( CEMEF ) ; MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris-PSL Research University ( PSL ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS )  (1)
  16. Kamo, Sandra L.  (1)
  17. Kronz, Andreas  (1)
  18. Castaing, Raymond (1921-1998)  (1)
  19. Frei, Dirk  (1)
  20. SUBRA, G  (1)
  21. Dörr, Wolfgang  (1)
  22. Reiners, Peter W.  (1)
  23. Benninghoven, A (1932-)  (1)
  24. Hofmeister, Wolfgang  (1)
  25. Häger, Tobias  (1)
  26. Darque-Ceretti, Evelyne (1949-...)  (1)
  27. Kosler, Jan  (1)
  28. Wan, Yusheng  (1)
  29. Götze, Jens  (1)
  30. Norberg, Nicholas  (1)
  31. Institute of Materials.Materials Science Committee, London, England  (1)
  32. Nasdala, Lutz  (1)
  33. Kröner, Alfred  (1)
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