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Frontiers in electronics

Workshop on Frontiers in Electronics (5th : 2007 Cozumel, Mexico) ; Cristoloveanu, Sorin. ; Shur, Michael.

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Frontiers in electronics : selected papers from the Workshop on Frontiers in Electronics 2011 (WOFE-11)
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Frontiers in electronics : selected papers from the Workshop on Frontiers in Electronics 2011 (WOFE-11)

Cristoloveanu, Sorin ; Shur, Michael

New York : Springer, 2013

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3
Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices
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Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices

Cristoloveanu, Sorin. ; Li, Sheng S.

Boston, MA : Springer US, 1995

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Frontiers in Electronics
Frontiers in Electronics
Frontiers in Electronics
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Frontiers in Electronics

Sorin Shur, Michael S. Cristoloveanu ; Sorin Cristoloveanu; Michael S Shur

World Scientific Publishing Co. Pte Ltd., 2013

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5
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Theory of the field-assisted photomagnetoelectric effect in thin films: Experiment on n-type GaAs and applications

Kang, Kwang Nham ; Cristoloveanu, Sorin

Thin Solid Films, 1984, Vol.114(4), pp.335-347 [Revue évaluée par les pairs]

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6
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Transport profiles, the influence of internal stress and potential fluctuations in thin silicon films on sapphire

Lee, Jong-Hyun ; Cristoloveanu, Sorin ; Chovet, Alain

Thin Solid Films, 1982, Vol.89(1), pp.13-18 [Revue évaluée par les pairs]

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7
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Micro and nano on insulator

Cristoloveanu, Sorin

physica status solidi (c), December 2008, Vol.5(12), pp.3588-3593 [Revue évaluée par les pairs]

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8
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Silicon on insulator technologies and devices: from present to future

Cristoloveanu, Sorin

Solid State Electronics, August 2001, Vol.45(8), pp.1403-1411 [Revue évaluée par les pairs]

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9
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Gan junctionless trigate field-effect transistor with deep-submicron gate length: characterization and modeling in rf regime

Im, Ki-Sik ; Seo, Jae Hwa ; Yoon, Young Jun ; Jang, Young In ; Kim, Jin Su ; Cho, Seongjae ; Lee, Jae-Hoon ; Cristoloveanu, Sorin ; Lee, Jung-Hee ; Kang, In Man

Japanese Journal of Applied Physics, 2014, Vol.53(11), p.118001 (3pp) [Revue évaluée par les pairs]

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Atomistic investigation of the impact of stress during solid phase epitaxial regrowth

Sklenard, Benoit ; Barbe, Jean‐Charles ; Batude, Perrine ; Rivallin, Pierrette ; Tavernier, Clement ; Cristoloveanu, Sorin ; Martin‐Bragado, Ignacio ; Cristiano, Fuccio ; Pichler, Peter ; Tavernier, Clément ; Windl, Wolfgang

physica status solidi (c), January 2014, Vol.11(1), pp.97-100 [Revue évaluée par les pairs]

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State-of-the-art and future of silicon on insulator technologies, materials, and devices

Cristoloveanu, Sorin

Microelectronics Reliability, 1 April 2000, Vol.40(4-5), pp.771-777 [Revue évaluée par les pairs]

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Fabrication of algan/gan ω-shaped nanowire fin-shaped fets by a top-down approach

Im, Ki-Sik ; Sindhuri, Vodapally ; Jo, Young-Woo ; Son, Dong-Hyeok ; Lee, Jae-Hoon ; Cristoloveanu, Sorin ; Lee, Jung-Hee

Applied Physics Express, 2015, Vol.8(6), p.066501 (3pp) [Revue évaluée par les pairs]

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Performance of gan metal–oxide–semiconductor field-effect transistor with regrown n + -source/drain on a selectively etched gan

Kim, Do-Kywn ; Kim, Dong-Seok ; Chang, Sung-Jae ; Lee, Chang-Ju ; Bae, Youngho ; Cristoloveanu, Sorin ; Lee, Jung-Hee ; Hahm, Sung-Ho

Japanese Journal of Applied Physics, 2013, Vol.52(6R) [Revue évaluée par les pairs]

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Introduction to Silicon On Insulator materials and devices

Cristoloveanu, Sorin

Microelectronic Engineering, 1997, Vol.39(1), pp.145-154 [Revue évaluée par les pairs]

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Hot-carrier degradation mechanisms in silicon-On-Insulator MOSFETS

Cristoloveanu, Sorin

Microelectronics Reliability, 1997, Vol.37(7), pp.1003-1013 [Revue évaluée par les pairs]

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Oxygen-related activity and other specific electrical properties of SIMOX

Cristoloveanu, Sorin

Vacuum, 1991, Vol.42(5), pp.371-378 [Revue évaluée par les pairs]

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Model for the extraction of the recombination lifetime in partially depleted SOI MOSFETs

Munteanu, Daniela ; Cristoloveanu, Sorin

Microelectronic Engineering, 1999, Vol.48(1), pp.355-358 [Revue évaluée par les pairs]

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A comparison of MOSFETs aging under d.c., a.c. and alternating stress conditions

Revil, Nathalie ; Cristoloveanu, Sorin ; Mortini, Patrick

Microelectronics Reliability, 1993, Vol.33(11), pp.1909-1919 [Revue évaluée par les pairs]

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19
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Investigation of mobility enhancement effect in process-induced strained ultrathin silicon-on-insulator metal–oxide–semiconductor field-effect transistors

Ohata, Akiko ; Gallon, Claire ; Fenouillet-Beranger, Claire ; Cristoloveanu, Sorin

Japanese Journal of Applied Physics, 2008, Vol.47(4R), p.2124 [Revue évaluée par les pairs]

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Defect localization induced by hot carrier injection in short-channel MOSFETs: Concept, modeling and characterization

Cristoloveanu, Sorin ; Haddara, Hisham ; Revil, Nathalie

Microelectronics Reliability, 1993, Vol.33(9), pp.1365-1385 [Revue évaluée par les pairs]

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