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Reactivity and diffusion between La0.8Sr0.8Mn03 and Zr02 at interfaces in SOFC cores by TEM analyses on FIB samples

Grosjean, Arnaud ; SANSEAU, Olivier ; Thorel, Alain (1955-....)

2006

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2
Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission. Tome I - Méthodologie Tome II - Techniques
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Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission. Tome I - Méthodologie Tome II - Techniques

AYACHE, Jeanne

Saint-Etienne : Publications de l'université de Saint-Etienne, 2007

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3
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Work function tuning through dopant scanning, and related effects in Ni fully silicided gate for sub-45nm nodes CMOS

AIMÉ, Delphine ; FROMENT, B. ; Molins, Régine

Evry : ENSMP, 2004

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4
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Nanosized carbon forms in the processes of pressure-temperature-induced transformations of hydrocarbons

Davydov, V.A. ; Rakhmanina, A.V. ; Boudou, Jean-Paul ; Allouchi, H. ; Agafonov, V. ; Thorel, Alain (1955-....)

Paris : ENSMP, 2006

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5
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Characterization of the oxide films formed at the surface on Ni-base alloys in pressurized water reactors primary coolant by transmission electron microscopy

Sennour, Mohamed, Auteur ; Marchetti, Loïc ; Molins, Régine

2008

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6
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
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Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Siegel, Benjamin M ; Beaman, Donald R

New York London Sydney Toronto : John Wiley and sons, 1975

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Etude du rôle des argiles dans la formation des niveaux riches en matière organique du cénomanien d'Italie centrale

SALMON, Valérie ; DERENNE, S. ; Largeau, Claude ; Lallier-Vergès, Elisabeth (1955-....) ; Beaudoin, Bernard

ENSMP, 1999

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8
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Investigation of the omega-phase precipitation in the 0.506 at.[percent] Ti-0.129 at.[percent] Nb-0.365 at.[percent] Al alloy by transmission electron microscopy and anomalous small-angle X-ray scattering

SADI, Fayçal-Amirouche ; SERVANT, Colette

ENSMP, 2000

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Interlamellar boundary characterization in Ni-based alloy thermally sprayed coating

NORMAND, Bernard ; RANNOU, Gilles ; HANNOYER, B. ; LIAO, Han-Lin ; Molins, Régine

ENSMP, 2003

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Caractérisation de l'oxydation interlamellaire de revêtements d'alliage 718 : étude en microscopie électronique en transmission

NORMAND, Bernard ; RANNOU, Gilles ; LIAO, Han-Lin ; Molins, Régine

ENSMP, 2002

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Microstructure and ordering mode of a protonic conducting complex Sr3(Ca1+xNb2-x)O9-8perovskite

Sayir, Ali ; Berger, Marie-Hélène (1962-....)

ENSMP, 2004

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12
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Analyse de la morphologie d'un catalyseur silice-cérine

Jeulin, Dominique, mathématicien (19..-....) ; Moreaud, Maxime (1980) ; Thorel, Alain (1955-....)

2005

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13
Transmission electron microscopy of materials
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Transmission electron microscopy of materials

Thomas, Gareth (1932-....) ; Goringe, Mike J.

New York : Wiley, 1979

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14
Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials
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Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials

Goodhew, Peter J. ; Royal Microscopical Society GB

Oxford New York Oxford : Oxford University Press Royal Microscopical Society, 1984

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15
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Fundamentals of transmission electron microscopy

Heidenreich, Robert D.

London New York Sydney : Interscience publ. J. Wiley, 1964

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16
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Versions multiples

Initiation á la microscopie électronique par transmission : minéralogie, sciences des matériaux

Société française de minéralogie et de cristallographie ; Willaime, Christian (1940-....)

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Microstructural study of bêta treated grade 702 zirconium : scanning electron microscopy and transmission electron microscopy, complementarity of two observational scales

CALDEMAISON, Daniel ; Bretheau, Thierry ; Crépin, Jérôme (-....)

ENSMP, 1997

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18
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Growth induced grain boundary plane oscillations in YBa2Cu3O7 thin film bicrystals

AYACHE, Jeanne ; JONG KIM, S. ; LESUEUR, Jérôme ; WESTMACOTT, K.H. ; DAHMEN, Uli ; Thorel, Alain (1955-....)

ENSMP, 1999

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19
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The legacy of Raimond Castaing

Grillon, François ; Philibert, Jean, physicien (19..-....)

ENSMP, 2002

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20
Interpretation of transmission electron micrographs
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Interpretation of transmission electron micrographs

Edington, Jeffrey William

London : Macmillan, 1975

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