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Low-Energy Ion Irradiation of Solid Surfaces

Gnaser, Hubert.

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Low-energy ion irradiation of solid surfaces
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Low-energy ion irradiation of solid surfaces

Gnaser, Hubert (1953-)

Berlin New York : Springer, 1999

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Atom probe tomography of nanostructures

Gnaser, Hubert

Surface and Interface Analysis, November 2014, Vol.46(S1), pp.383-388 [Revue évaluée par les pairs]

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Focused ion beam implantation of Ga in InP studied by SIMS and dynamic computer simulations

Gnaser, Hubert ; Gnaser, Hubert (correspondence author)

Surface and Interface Analysis, Jan 2011, Vol.43(1-2), pp.28-31 [Revue évaluée par les pairs]

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Correlations in secondary-ion yields from Cs-implanted semiconductors

Gnaser, Hubert

Surface Science, 20 November 1995, Vol.342(1-3), pp.319-326 [Revue évaluée par les pairs]

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6
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Processes in low-energy ion-surface collisions: preferential sputtering, defect and adatom formation

Gnaser, Hubert

Applied Surface Science, 1996, Vol.100, pp.316-328 [Revue évaluée par les pairs]

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Energy spectra of sputtered ions: assessment of the instrumental resolution

Gnaser, Hubert

Surface and Interface Analysis, January 2013, Vol.45(1), pp.79-82 [Revue évaluée par les pairs]

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Self-organizing nanodot structures on InP surfaces evolving under low-energy ion irradiation: analysis of morphology and composition

Radny, Tobias ; Gnaser, Hubert

Nanoscale Research Letters, 2014, Vol.9(1), pp.1-9 [Revue évaluée par les pairs]

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Sputtered molecular fluoride anions: HfFn- and WFn-

Gnaser, Hubert ; Golser, Robin ; Gnaser, Hubert (correspondence author)

Surface and Interface Analysis, Jan 2011, Vol.43(1-2), pp.32-35 [Revue évaluée par les pairs]

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10
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Peptide dissociation patterns in secondary ion mass spectrometry under large argon cluster ion bombardment

Gnaser, Hubert ; Fujii, Makiko ; Nakagawa, Shunichirou ; Seki, Toshio ; Aoki, Takaaki ; Matsuo, Jiro

Rapid Communications in Mass Spectrometry, 15 July 2013, Vol.27(13), pp.1490-1496 [Revue évaluée par les pairs]

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Die Welt ist keine Scheibe

Wahl, Michael ; Gnaser, Hubert ; Kopnarski, Michael

Vakuum in Forschung und Praxis, October 2013, Vol.25(5), pp.24-30 [Revue évaluée par les pairs]

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Strongly reduced fragmentation and soft emission processes in sputtered ion formation from amino acid films under large Arn+ (n ≤ 2200) cluster ion bombardment

Gnaser, Hubert ; Ichiki, Kazuya ; Matsuo, Jiro

Rapid Communications in Mass Spectrometry, 15 January 2012, Vol.26(1), pp.1-8 [Revue évaluée par les pairs]

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Sputtered ion emission under size‐selected Ar n + cluster ion bombardment

Gnaser, Hubert ; Ichiki, Kazuya ; Matsuo, Jiro

Surface and Interface Analysis, January 2013, Vol.45(1), pp.138-142 [Revue évaluée par les pairs]

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Ein Bild sagt mehr als tausend Worte:

Wahl, Michael ; Gnaser, Hubert ; Kopnarski, Michael

Vakuum in Forschung und Praxis, December 2013, Vol.25(6), pp.29-36 [Revue évaluée par les pairs]

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Dynamic computer simulations of Cs incorporation in Si during low‐energy (0.2–3 keV) irradiation

Gnaser, Hubert

Surface and Interface Analysis, October 2008, Vol.40(10), pp.1367-1373 [Revue évaluée par les pairs]

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Focused ion beam implantation of Ga in Si and Ge: fluence‐dependent retention and surface morphology

Gnaser, Hubert ; Brodyanski, Alexander ; Reuscher, Bernhard

Surface and Interface Analysis, November 2008, Vol.40(11), pp.1415-1422 [Revue évaluée par les pairs]

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Isotope effects in the formation of MCs + molecular secondary ions

Gnaser, Hubert

Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B, 1995, Vol.100(2), pp.347-351 [Revue évaluée par les pairs]

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SIMS Detection in the 10 12 Atoms cm ‐3 Range

Gnaser, Hubert

Surface and Interface Analysis, September 1997, Vol.25(10), pp.737-740 [Revue évaluée par les pairs]

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Towards a 3D Characterization of Solids by MCs + SIMS

Gnaser, Hubert

Surface and Interface Analysis, August 1996, Vol.24(8), pp.483-489 [Revue évaluée par les pairs]

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Negative cluster ions in sputtering of Si, SiC and graphite: Abundance distributions, energy spectra and fragmentation processes

Gnaser, Hubert

Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B, 2000, Vol.164, pp.705-714 [Revue évaluée par les pairs]

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