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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices

Sikula, Josef ; Levinshtein, Michael

Dordrecht : Springer Science + Business Media, Inc. Springer e-books, 2005

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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices

Levinshtein, Michael. ; Sikula, Josef.

Dordrecht : Springer Netherlands, 2005

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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices

Levinshtein, Michael ; Sikula, Josef

Dordrecht : Springer Netherlands, 2005

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Sic Materials And Devices
Sic Materials And Devices
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Sic Materials And Devices

Michael Shur ; Mikhail Efimovich Levinshtein; Sergey L Rumyantsev; Michael Shur; Levinshtein, Michael; Rumyantsev, Sergey

Singapore World Scientific, 2007

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5
SiC materials and devices
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SiC materials and devices

Levinshteĭn, M. E. ; Rumyantsev, Sergey. ; Shur, Michael.

New Jersey London : World Scientific, 2007

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SiC materials and devices.. Vol. 1
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SiC materials and devices.. Vol. 1

Levinshteĭn, M. E. ; Rumyantsev, Sergey L. ; Shur, Michael.

New Jersey : World Scientific, 2006

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7
Breakdown phenomena in semiconductors and semiconductor devices
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Breakdown phenomena in semiconductors and semiconductor devices

Levinshteĭn, M. E. ; Kostamovaara, Juha. ; Vainshtein, Sergey.

New Jersey London : World Scientific, 2005

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8
Breakdown Phenomena In Semiconductors And Semiconductor Devices
Breakdown Phenomena In Semiconductors And Semiconductor Devices
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Breakdown Phenomena In Semiconductors And Semiconductor Devices

Mikhail Efimovich Levinshtein ; Juha Kostamovaara; Michael Levinshtein; Sergey Vainshtein

Singapore World Scientific, 2005

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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
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Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices

NATO Advanced Research Workshop "Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices" ; Michael Levinshtein; Mikhail Efimovich Levinshtein; Josef Sikula; North Atlantic Treaty Organization.

Dordrecht Springer Netherlands, 2005

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SiC materials and devices : Selected topics in electronics and systems
SiC materials and devices : Selected topics in electronics and systems
SiC materials and devices : Selected topics in electronics and systems
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SiC materials and devices : Selected topics in electronics and systems

Michael Shur ; Mikhail Efimovich Levinshtein; Sergey L Rumyantsev; Michael Shur

2006

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Mechanisms behind efficiency droop and degradation in InGaN/GaN LEDs

Shmidt, Natalia ; Greshnov, Andrew ; Chernyakov, Anton ; Levinshtein, Michael ; Zakgeim, Alexander ; Shabunina, Evgeniia ; Toropov, Alexey ; Ivanov, Sergey

physica status solidi (c), March 2013, Vol.10(3), pp.332-334 [Revue évaluée par les pairs]

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Article
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Extended defect system as a main source of non‐radiative recombination in InGaN/GaN LEDs

Shabunina, Evgeniia ; Averkiev, Nikita ; Chernyakov, Anton ; Levinshtein, Michael ; Petrov, Pavel ; Shmidt, Natalia ; Toropov, Alexey ; Ivanov, Sergey

physica status solidi (c), March 2013, Vol.10(3), pp.335-337 [Revue évaluée par les pairs]

Texte intégral disponible

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Article
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Turn-off operation of a MOS-gate 2.6 kV 4H–SiC gate turn-off thyristor

Ivanov, Pavel A ; Levinshtein, Michael E ; Rumyantsev, Sergey L ; Agarwal, Anant K ; Palmour, John W

Solid State Electronics, 2000, Vol.44(12), pp.2155-2159 [Revue évaluée par les pairs]

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14
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Temperature dependence of turn-on processes in 4H–SiC thyristors

Levinshtein, Michael E ; Mnatsakanov, Tigran T ; Ivanov, Pavel A ; Agarwal, Anant K ; Palmour, John W ; Rumyantsev, Sergey L ; Tandoev, Aleksey G ; Yurkov, Sergey N

Solid State Electronics, 2001, Vol.45(3), pp.453-459 [Revue évaluée par les pairs]

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