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Temperature Measurement of Power Semiconductor Devices by Thermo-Sensitive Electrical Parameters - A Review

Avenas, Yvan ; Dupont, Laurent ; Khatir, Zoubir

IEEE Transactions on Power Electronics, 01 January 2012, Issue 27 [Revue évaluée par les pairs]

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Comparison of junction temperature evaluations in a power IGBT module using an IR camera and three thermo-sensitive electrical parameters

Dupont, Laurent ; Avenas, Yvan ; Jannin, Pierre Olivier

IEEE Transactions on Industry Applications, 01 January 2013, Vol.49(4) [Revue évaluée par les pairs]

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Direct Copper Bonding for Power Interconnects: Design, Manufacturing and Test

Mouawad, Bassem ; Thollin, Benoit ; Buttay, Cyril ; Dupont, Laurent ; Bley, Vincent ; Fabregue, D ; Soueidan, Maher ; Schlegel, Benoit ; Pezard, Julien ; Crebier, Jena Christophe

IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 01 January 2015, Vol.5(1) [Revue évaluée par les pairs]

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Preliminary Evaluation of Thermo-Sensitive Electrical Parameters Based on the Forward Voltage for Online Chip Temperature Measurements of IGBT Devices

Dupont, Laurent ; Avenas, Yvan

IEEE Transactions on Industry Applications, 01 January 2015, Vol.6(51), pp.4688-4698 [Revue évaluée par les pairs]

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IR Camera Validation of IGBT Junction Temperature Measurement via Peak Gate Current

Baker, Nick ; Dupont, Laurent ; Munk-Nielsen, Stig ; Iannuzzo, Francesco ; Liserre, Marco

IEEE Transactions on Power Electronics, April 2017, Vol.32(4) [Revue évaluée par les pairs]

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Composants à semi-conducteur de puissance pour des applications à haute température de fonctionnement

Allard, Bruno ; Coquery, Gérard ; Dupont, Laurent ; Khatir, Zoubir ; Lazar, Mihai ; Lefebvre, Stéphane ; Meuret, Régis ; Morel, Hervé ; Planson, Dominique

J3eA, 01 January 2005, Vol.4(HS) [Revue évaluée par les pairs]

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Conventional interconnects: the crisis

Moussavi, Mehdi

Comptes Rendus de l'Academie des Sciences Series IV Physics, 2000, Vol.1(7), pp.929-939

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Towards integrated semiconductor optical parametric oscillators

Rosencher, Emmanuel

Comptes Rendus de l'Academie des Sciences Series IV Physics, 2000, Vol.1(5), pp.615-625

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