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High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

R. Dean Adams

Dordrecht Springer US, 2003

Accessible en ligne

  • Titre:
    High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
  • Auteur: R. Dean Adams
  • Éditeur: Dordrecht Springer US
  • Date de publication: 2003
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN0-306-47972-9;ISBN1-4020-7255-4;ISBN1-60119-344-0
  • Source: Dauphine (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)

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