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Formation Testing : Pressure Transient and Contamination Analysis

Wilson C. Chin ; Wilson C Chin; Yanmin Zhou

Hoboken Wiley, 2014

Accessible en ligne

  • Titre:
    Formation Testing : Pressure Transient and Contamination Analysis
  • Auteur: Wilson C. Chin
  • Autre(s) auteur(s): Wilson C Chin; Yanmin Zhou
  • Éditeur: Hoboken Wiley
  • Date de publication: 2014
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN1-118-83113-6;ISBN1-118-83114-4;ISBN1-118-83117-9;ISBN1-118-83115-2
  • Source: Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)

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