skip to main content

Transmission Electron Microscopy in Micro-nanoelectronics

A.P Claverie ; Alain Claverie

London John Wiley & Sons, 2012

Accessible en ligne

  • Titre:
    Transmission Electron Microscopy in Micro-nanoelectronics
  • Auteur: A.P Claverie
  • Autre(s) auteur(s): Alain Claverie
  • Éditeur: London John Wiley & Sons
  • Date de publication: 2012
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN1-84821-367-0;ISBN1-118-57903-8;ISBN1-118-57902-X;ISBN1-118-57905-4;ISBN1-299-06761-1
  • Source: Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)

Recherche dans les bases de données distantes en cours. Merci de patienter.

  • Recherche
  • dansscope:(33PSL-CNSAD),scope:(33PSL-EHESS),scope:(33PSL-PSL_OMEKA),scope:(33PSL-MINES),scope:(33PSL-EFEO),scope:(33PSL-CNSMDP),scope:(33PSL-CHIMIE),scope:(33PSL),scope:("DAU"),scope:(33PSL-CDF),scope:(33PSL-ENS),scope:("33PSL-OBSERV"),scope:("33PSL-ESPCI"),scope:(33PSL-CURIE),scope:(33PSL-ENSBA),scope:("33PSL-ENC"),scope:(33PSL-PSL_STAR),scope:(33PSL-PSL_SFX),scope:("33PSL-EPHE"),scope:(33PSL-ENSAD),primo_central_multiple_fe
  • Afficher ce qui a déjà été récupéré