skip to main content

Wiley - IEEE : Meta-Algorithmics : Patterns for Robust, Low Cost, High Quality Systems

Steven J. Simske

Wiley, 2013

Accessible en ligne

  • Titre:
    Wiley - IEEE : Meta-Algorithmics : Patterns for Robust, Low Cost, High Quality Systems
  • Auteur: Steven J. Simske
  • Éditeur: Wiley
  • Date de publication: 2013
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 1-118-34336-0 ;ISBN 1-118-62669-9 ;ISBN 1-118-62671-0 ;ISBN 1-118-62670-2
  • Source: Mines ParisTech (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)

Recherche dans les bases de données distantes en cours. Merci de patienter.

  • Recherche
  • dansscope:(33PSL-CNSAD),scope:(33PSL-EHESS),scope:(33PSL-PSL_OMEKA),scope:(33PSL-MINES),scope:(33PSL-EFEO),scope:(33PSL-CNSMDP),scope:(33PSL-CHIMIE),scope:(33PSL),scope:("DAU"),scope:(33PSL-CDF),scope:(33PSL-ENS),scope:("33PSL-OBSERV"),scope:("33PSL-ESPCI"),scope:(33PSL-CURIE),scope:(33PSL-ENSBA),scope:("33PSL-ENC"),scope:(33PSL-PSL_STAR),scope:(33PSL-PSL_SFX),scope:("33PSL-EPHE"),scope:(33PSL-ENSAD),primo_central_multiple_fe
  • Afficher ce qui a déjà été récupéré