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Defects-recognition Imaging and Physics in Semiconductors XIV

Tony Sun ; Akira Sakai; Hiroshi Yamada-Kaneta

Trans Tech Publications, 2012

Accessible en ligne

  • Titre:
    Defects-recognition Imaging and Physics in Semiconductors XIV
  • Auteur: Tony Sun
  • Autre(s) auteur(s): Akira Sakai; Hiroshi Yamada-Kaneta
  • Éditeur: Trans Tech Publications
  • Date de publication: 2012
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN3-03785-442-1;ISBN3-03813-856-8
  • Source: Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)

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