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Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics : A Practical Approach to High Power and Single Mode Devices

Peter W. Epperlein

New York John Wiley & Sons, 2013

Accessible en ligne

  • Titre:
    Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics : A Practical Approach to High Power and Single Mode Devices
  • Auteur: Peter W. Epperlein
  • Éditeur: New York John Wiley & Sons
  • Date de publication: 2013
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 1-119-99033-5 ;ISBN 1-118-48187-9 ;ISBN 1-118-48186-0 ;ISBN 1-118-48188-7
  • Source: Collège de France (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)

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