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Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits

Sudarshan Bahukudumbi ; Krishnendu Chakrabarty

Artech House, 2010

Accessible en ligne

  • Titre:
    Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
  • Auteur: Sudarshan Bahukudumbi
  • Autre(s) auteur(s): Krishnendu Chakrabarty
  • Éditeur: Artech House
  • Date de publication: 2010
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN1-59693-989-3;ISBN1-59693-990-7
  • Source: Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)

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