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Microelectronics Failure Analysis

Richard J. Ross (ed) ; Richard J Ross; Electronic Device Failure Analysis Society.

ASM International, 2011

Accessible en ligne

  • Titre:
    Microelectronics Failure Analysis
  • Auteur: Richard J. Ross (ed)
  • Autre(s) auteur(s): Richard J Ross; Electronic Device Failure Analysis Society.
  • Éditeur: ASM International
  • Date de publication: 2011
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 1-61503-725-X ;ISBN 1-61503-726-8 ;ISBN 1-61503-837-X
  • Source: Mines ParisTech (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

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