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Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductors

Allan Johnston ; Allan H Johnston

WSPC, 2010

Accessible en ligne

  • Titre:
    Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductors
  • Auteur: Allan Johnston
  • Autre(s) auteur(s): Allan H Johnston
  • Sujets: Ingénierie -- Electronique
  • Éditeur: WSPC
  • Date de publication: 2010
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 981-4277-10-X ;ISBN 9786613143747 ;ISBN 1-61583-687-X ;ISBN 1-283-14374-7 ;ISBN 981-4277-11-8
  • Source: PSL (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

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