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Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: Analysis of Composition and Strain State

Andreas Rosenauer

Berlin Springer Berlin Heidelberg, 2003

Accessible en ligne

  • Titre:
    Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: Analysis of Composition and Strain State
  • Auteur: Andreas Rosenauer
  • Éditeur: Berlin Springer Berlin Heidelberg
  • Date de publication: 2003
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 3-540-00414-9 ;ISBN 3-540-36407-2
  • Source: PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

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