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Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices

Takashi Baba, Mamoru Ibe, Eishi Nakamura ; Mamoru Baba; Eishi Ibe; Takashi Nakamura

2008

Accessible en ligne

  • Titre:
    Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
  • Auteur: Takashi Baba, Mamoru Ibe, Eishi Nakamura
  • Autre(s) auteur(s): Mamoru Baba; Eishi Ibe; Takashi Nakamura
  • Date de publication: 2008
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 981-277-881-0 ;ISBN 9786611930059 ;ISBN 1-281-93005-9 ;ISBN 981-277-882-9
  • Source: PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

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