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Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices

R.D Schrimpf ; D.M Fleetwood; Dan M Fleetwood; Ronald Donald Schrimpf

2004

Accessible en ligne

  • Titre:
    Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices
  • Auteur: R.D Schrimpf
  • Autre(s) auteur(s): D.M Fleetwood; Dan M Fleetwood; Ronald Donald Schrimpf
  • Date de publication: 2004
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN981-238-940-7;ISBN9786611934590;ISBN1-281-93459-3;ISBN981-279-470-0
  • Source: Dauphine (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)

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