skip to main content

Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis : Oxford series in optical and imaging sciences

David C. Joy

1995

Accessible en ligne

  • Titre:
    Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis : Oxford series in optical and imaging sciences
  • Auteur: David C. Joy
  • Date de publication: 1995
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 0-19-508874-3 ;ISBN 9786610534890 ;ISBN 1-280-53489-3 ;ISBN 0-19-535846-5
  • Source: Mines ParisTech (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

Recherche dans les bases de données distantes en cours. Merci de patienter.

  • Recherche
  • dansscope:(33PSL-CNSAD),scope:(33PSL-EHESS),scope:(33PSL-PSL_OMEKA),scope:(33PSL-MINES),scope:(33PSL-EFEO),scope:(33PSL-CNSMDP),scope:(33PSL-CHIMIE),scope:(33PSL),scope:("DAU"),scope:(33PSL-CDF),scope:(33PSL-ENS),scope:("33PSL-OBSERV"),scope:("33PSL-ESPCI"),scope:(33PSL-CURIE),scope:(33PSL-ENSBA),scope:("33PSL-ENC"),scope:(33PSL-PSL_STAR),scope:(33PSL-PSL_SFX),scope:("33PSL-EPHE"),scope:(33PSL-ENSAD),primo_central_multiple_fe
  • Afficher ce qui a déjà été récupéré