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Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability : Selected topics in electronics and systems

D. J Dumin

2002

Accessible en ligne

  • Titre:
    Oxide reliability : a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability : Selected topics in electronics and systems
  • Autre(s) auteur(s): D. J Dumin
  • Date de publication: 2002
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 981-02-4842-3 ;ISBN 981-277-806-3
  • Source: Mines ParisTech (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)

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