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X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)

Paul F. Fewster

Singapore World Scientific, 2003

Accessible en ligne

  • Titre:
    X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)
  • Auteur: Paul F. Fewster
  • Éditeur: Singapore World Scientific
  • Date de publication: 2003
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 1-86094-360-8 ;ISBN 9786611866365 ;ISBN 1-62870-231-1 ;ISBN 1-281-86636-9 ;ISBN 1-86094-458-2
  • Source: PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)

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