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Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces

Dror Sarid

New York Oxford University Press, USA, 1994

Accessible en ligne

  • Titre:
    Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
  • Auteur: Dror Sarid
  • Éditeur: New York Oxford University Press, USA
  • Date de publication: 1994
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN0-19-509204-X;ISBN0-19-506270-1;ISBN9786610441785;ISBN0-19-802281-6;ISBN1-280-44178-X;ISBN0-19-534469-3;ISBN1-60256-628-3
  • Source: Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)

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