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Characterization and Behavior of Interfaces: Proceedings of Research Symposium on Characterization and Behavior of Interfaces, 21 September 2008, Atlanta, Georgia, USA

J.d. Frost

Amsterdam IOS Press, 2010

Accessible en ligne

  • Titre:
    Characterization and Behavior of Interfaces: Proceedings of Research Symposium on Characterization and Behavior of Interfaces, 21 September 2008, Atlanta, Georgia, USA
  • Auteur: J.d. Frost
  • Éditeur: Amsterdam IOS Press
  • Date de publication: 2010
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 1-60750-490-1 ;ISBN 6612692731 ;ISBN 9786612692734 ;ISBN 1-60750-491-X ;ISBN 1-282-69273-9
  • Source: ESPCI Paris (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

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