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ISTFA 2004 : Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis

Matthew L. Thayer

ASM International, 2004

Accessible en ligne

  • Titre:
    ISTFA 2004 : Proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis
  • Auteur: Matthew L. Thayer
  • Éditeur: ASM International
  • Date de publication: 2004
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 9780871708078 ;ISBN 1-61503-087-5
  • Source: ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

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