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In-situ electron microscopy at high resolution

Florian Banhart

2008

Accessible en ligne

  • Titre:
    In-situ electron microscopy at high resolution
  • Autre(s) auteur(s): Florian Banhart
  • Sujets: Engineering -- Electronics
  • Date de publication: 2008
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 981-279-733-5 ;ISBN 1-61344-079-0 ;ISBN 981-279-734-3
  • Source: Collège de France (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)

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