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Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices

Joe Kelly ; Michael Engelhardt

2007

Accessible en ligne

  • Titre:
    Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices
  • Auteur: Joe Kelly
  • Autre(s) auteur(s): Michael Engelhardt
  • Date de publication: 2007
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 1-58053-709-X ;ISBN 1-58053-710-3
  • Source: Mines ParisTech (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    ESPCI Paris (ressources électroniques)

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