skip to main content

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

A. W. Czanderna ; Alvin Warren Czanderna; T. E Madey; Theodore E Madey; Cedric John Powell

Springer US, 2002

Accessible en ligne

  • Titre:
    Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
  • Auteur: A. W. Czanderna
  • Autre(s) auteur(s): Alvin Warren Czanderna ; T. E Madey ; Theodore E Madey ; Cedric John Powell
  • Éditeur: Springer US
  • Date de publication: 2002
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 0-306-45896-9 ;ISBN 9786610204953 ;ISBN 1-280-20495-8 ;ISBN 0-306-46914-6
  • Source: ESPCI Paris (ressources électroniques)
    PSL (ressources électroniques)
    Dauphine (ressources électroniques)
    Mines ParisTech (ressources électroniques)
    Collège de France (ressources électroniques)

Recherche dans les bases de données distantes en cours. Merci de patienter.

  • Recherche
  • dansscope:(33PSL-CNSAD),scope:(33PSL-EHESS),scope:(33PSL-PSL_OMEKA),scope:(33PSL-MINES),scope:(33PSL-EFEO),scope:(33PSL-CNSMDP),scope:(33PSL-CHIMIE),scope:(33PSL),scope:("DAU"),scope:(33PSL-CDF),scope:(33PSL-ENS),scope:("33PSL-OBSERV"),scope:("33PSL-ESPCI"),scope:(33PSL-CURIE),scope:(33PSL-ENSBA),scope:("33PSL-ENC"),scope:(33PSL-PSL_STAR),scope:(33PSL-PSL_SFX),scope:("33PSL-EPHE"),scope:(33PSL-ENSAD),primo_central_multiple_fe
  • Afficher ce qui a déjà été récupéré