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CONTRIBUTION DE L'ANALYSE D'IMAGES A LA CARACTERISATION MORPHOLOGIQUE DES SURFACES INDUSTRIELLES

BARRE, FREDERIQUE ; LOPEZ, JACQUES

S.l. : s.n., 1997

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  • Titre:
    CONTRIBUTION DE L'ANALYSE D'IMAGES A LA CARACTERISATION MORPHOLOGIQUE DES SURFACES INDUSTRIELLES
  • Auteur: BARRE, FREDERIQUE
  • Autre(s) auteur(s): LOPEZ, JACQUES
  • Description: Thèse de doctorat
    NOTRE PRINCIPAL RESULTAT EST L'INTRODUCTION D'UNE METHODE DE DETERMINATION DE MOTIFS 3D APPLICABLE A TOUT TYPE DE SURFACE INDUSTRIELLE. NOUS UTILISONS UNE ADAPTATION DE L'ALGORITHME DE DETERMINATION DE LIGNES DE PARTAGE DES EAUX PAR IMMERSION DE L. VINCENT, BASEE SUR UNE DEFINITION PRECISE DE LA NOTION DE MOTIF 3D EN TERMES DE BASSINS VERSANTS. NOTRE METHODE ASSOCIE LES MOTIFS NON SIGNIFICATIFS DE FACON INDIRECTE, EN REMPLISSANT JUSQU'A LEUR POINT DE DEBORDEMENT CEUX DONT LA SURFACE A CE NIVEAU EST INFERIEURE A UNE SURFACE SEUIL AVANT DE DETERMINER LES LIGNES DE PARTAGE DES EAUX. CETTE METHODE PERMET D'EFFECTUER UNE ANALYSE MULTIRESOLUTION DES SURFACE INDUSTRIELLES INTEGRANT NOTAMMENT LE CALCUL DE PARAMETRES STATISTIQUES SUR LES MOTIFS 3D. NOUS NOUS SOMMES PAR AILLEURS INTERESSES A LA CARACTERISATION DE L'ANISOTROPIE D'UNE SURFACE. DEUX METHODES ORIGINALES SONT PRESENTEES, DANS LESQUELLES UNE ROSE DES DIRECTIONS EST CONSTRUITE, SOIT A PARTIR DES SEGMENTS CONSTITUANT LES LIMITES DES MOTIFS, SOIT A PARTIR DES LIGNES DE NIVEAUX ASSOCIEES A UNE ALTITUDE DE COUPE PARTICULIERE. SONT EGALEMENT INTRODUITS DES TAUX D'ANISOTROPIE PERMETTANT DE QUANTIFIER L'ANISOTROPIE ET D'EVALUER LES CONTRIBUTIONS DES DIFFERENTES ORIENTATIONS DANS LE CAS DE SURFACES MULTIDIRECTIONNELLES. DEUX AUTRES METHODES ORIGINALES SONT PRESENTEES, QUI UTILISENT LA NOTION DE MOTIF 3D DEFINIE PRECEDEMMENT POUR RESOUDRE DES PROBLEMES DE CARACTERISATION SPECIFIQUES. LA PREMIERE EST DESTINEE AUX SURFACES PRESENTANT DES RAYURES COURBES ET LA SECONDE PERMET DE CARACTERISER LES SURFACES A PLATEAU, QUI PRESENTENT UNE DISTRIBUTION DES HAUTEURS ASYMETRIQUE, TRES EFFILEE VERS LE BAS ET DONT LE MAXIMUM EST ATTEINT POUR UNE ALTITUDE ELEVEE.
  • Éditeur: S.l. : s.n.
  • Date de publication: 1997
  • Format: 299 P.
  • Langue: Français
  • Source: Mines ParisTech (catalogue)

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