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Instrumentation mesure de l'épaisseur d'une lame mince lignes HOLZ et mesure du paramètre symétrie cristalline et symétrie de diffraction : séminaire pédagogique sur la diffraction a faisceau convergent

Liège : s.n., 1983

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  • Titre:
    Instrumentation mesure de l'épaisseur d'une lame mince lignes HOLZ et mesure du paramètre symétrie cristalline et symétrie de diffraction : séminaire pédagogique sur la diffraction a faisceau convergent
  • Sujets: Microscopie électronique;
    Diffraction électronique;
    Instrumentation
  • Éditeur: Liège : s.n.
  • Date de publication: 1983
  • Format: 30 cm
  • Langue: Français
  • Source: Mines ParisTech (catalogue)

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