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Three-dimensional X-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics

Poulsen, Henning F. Friis

Berlin : Springer, 2004

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  • Titre:
    Three-dimensional X-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics
  • Auteur: Poulsen, Henning F. Friis
  • Sujets: Microscopie à rayons X ;
    Microscopie RX ;
    Recristallisation ;
    Cristallographie ;
    Polycristal ;
    Diffraction RX
  • Description: Mines : Introducttion. Methods for mesoscale structural characterization. Geometric principles. GRAINDEX and related analysis. Orientation mapping. Combining 3DXRD and absorption contrast tomography. Multigrain crystallography. The 3DXRD microscope. Applications. Alternative approaches Concluding remarks
  • Éditeur: Berlin : Springer
  • Date de publication: 2004
  • Format: 1 vol. (XI-154 p.) : ill. ; 25 cm
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 3-540-22330-4
  • Source: Mines ParisTech (catalogue)

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