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Electron microscopy and microanalysis of crystalline materials

Belk, J. A.

London : Applied Science Publishers, 1979

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  • Titre:
    Electron microscopy and microanalysis of crystalline materials
  • Autre(s) auteur(s): Belk, J. A.
  • Sujets: Cristallographie;
    Appareillage;
    Diffraction électron;
    Matériau cristallin;
    Métal;
    Microanalyse;
    Microscopie électronique;
    Spectrométrie RX;
    Structure surface
  • Description: Mines : Principles of electron optics. Electron diffraction. precipitation studies. The application of transmission electron microscopy to the study of plastic deformation. Scanning electron microscopy. Instrumentation in electron probe microanalysis. Quantitative microanalysis. Applications of electron probe microanalysis. Kossel X ray microdiffraction
  • Éditeur: London : Applied Science Publishers
  • Date de publication: 1979
  • Format: 1vol.(x-240p.) : ill ; 23cm
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 0-85334-816-2
  • Source: Mines ParisTech (catalogue)

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