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Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Siegel, Benjamin M ; Beaman, Donald R

New York London Sydney Toronto : John Wiley and sons, 1975

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  • Titre:
    Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
  • Autre(s) auteur(s): Siegel, Benjamin M;
    Beaman, Donald R
  • Sujets: Microanalyse;
    Microscopie électronique transmission;
    Sonde électronique;
    Sonde ionique
  • Description: Mines : Transmission electron microscopy : resolution and contrast, physical applications using high voltage, conventional, and scanning microscopy, biophysical:radiation damage, energy analysis, instrumentation:field emission illuminating systems. Microbeam analysis
  • Éditeur: New York London Sydney Toronto : John Wiley and sons
  • Date de publication: 1975
  • Format: XIII, 474 p : fig ; 26 cm
  • Langue: Anglais
  • Identifiant: ISBN 0-471-79020-6
  • Source: Mines ParisTech (catalogue)

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