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Caractérisation des matériaux et technologies semiconducteurs : comptes rendus du Colloque Grenoble 27,28,29 septembre 1972

Colloque sur la caractérisation des matériaux et les technologies semiconducteurs Colloque sur la caractérisation des matériaux et les technologies semiconducteurs 1972 Grenoble ; Lafeuille, Denis ; France Délégation générale à la recherche scientifique et technique

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Titre:
Caractérisation des matériaux et technologies semiconducteurs : comptes rendus du Colloque Grenoble 27,28,29 septembre 1972
Auteur: Colloque sur la caractérisation des matériaux et les technologies semiconducteurs Colloque sur la caractérisation des matériaux et les technologies semiconducteurs 1972 Grenoble
Autre(s) auteur(s): Lafeuille, Denis ;
France Délégation générale à la recherche scientifique et technique
Sujets: Semiconducteurs -- Congrès ;
Méthode étude ;
Méthode analyse ;
Caractérisation ;
Semiconducteur
Description: Mines : Techniques de diffraction : rayons X, microscopie électronique par transmission, analyseur ionaique de Castaing-Slodzian, réactions nucléaires et techniques connexes, spectrométrie infrarouge et techniques de luminescence, spectrométrie de masse à étincelles radioactivation microscopie electronique à balayage autres techniques, caractérisation électrique
Éditeur: Grenoble : Laboratoire d'électronique et de technologie de l'informatique
Date de publication: [1973?
Format: 1 vol. (684 p.) : ill. ; 24 cm
Langue: Français
Source: Mines ParisTech (catalogue)

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