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Automated technology for verification and analysis : Third international symposium, ATVA 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005 proceedings

International Symposium on Automated Technology for Verification and Analysis International Symposium on Automated Technology for Verification and Analysis 3rd Taipei, Taiwan 2005 ; Peled, Doron A. (1962-...) ; Tsay, Yih-Kuen

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Titre:
Automated technology for verification and analysis : Third international symposium, ATVA 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005 proceedings
Auteur: International Symposium on Automated Technology for Verification and Analysis International Symposium on Automated Technology for Verification and Analysis 3rd Taipei, Taiwan 2005
Autre(s) auteur(s): Peled, Doron A. (1962-...);
Tsay, Yih-Kuen
Sujets: Conception technique -- Informatique -- Congrès;
Informatique -- Recherche;
Conception assistée par ordinateur -- Congrès;
TEST;
RESEAU DE PETRI;
LOGICIEL SYSTEMC;
LANGAGE ESTEREL;
ANALYSE SEMANTIQUE;
Langage JAVA;
Modèl Checking;
H-INF.TH.
Éditeur: Berlin New York, NY : Springer
Date de publication: 2005
Format: 1 vol. (XII-506 p.) : ill. ; 24 cm
Langue: Anglais
Identifiant: ISBN 3-540-29209-8
Source: Mines ParisTech (catalogue)

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