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Near-wall nanovelocimetry based on total internal reflection fluorescence with continuous tracking

Li , Zhenzhen ; D’Eramo , Loïc ; Lee , Choongyeop ; Monti , Fabrice ; Yonger , Marc ; Tabeling , Patrick ; Chollet , Benjamin ; Bresson , Bruno ; Tran , Yvette ; Laboratoire Microfluidique, MEMS, Nanostructures ( MMN ) ; ESPCI ParisTech-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) ; Sciences et Ingénierie de la Matière Molle ( SIMM ) ; Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 ( UPMC ) -ESPCI ParisTech-PSL Research University ( PSL ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS )

ISSN: 0022-1120

HAL CCSD;Cambridge University Press (CUP), 2015

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