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Electrical Impedance Tomography by Elastic Deformation

Ammari , Habib ; Bonnetier , Eric ; Capdeboscq , Yves ; Tanter , Mickael ; Fink , Mathias ; Laboratoire ondes et acoustique ( LOA ) ; Université Paris Diderot - Paris 7 ( UPD7 ) -ESPCI ParisTech-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) ; Equations aux Dérivées Partielles ( EDP ) ; Laboratoire Jean Kuntzmann ( LJK ) ; Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 ( UPMF ) -Université Joseph Fourier - Grenoble 1 ( UJF ) -Institut Polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Université Grenoble Alpes ( UGA ) -Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 ( UPMF ) -Université Joseph Fourier - Grenoble 1 ( UJF ) -Institut Polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Université Grenoble Alpes ( UGA ) ; Laboratoire de Mathématiques de Versailles ( LMV ) ; Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines ( UVSQ ) ; ANR-06-BLAN-0089,EchoScan,Imagerie médicale haute précision par reconstruction de la carte de conductivité sous perturbation élastique ( 2006 )

ISSN: 0036-1399

HAL CCSD;Society for Industrial and Applied Mathematics, 2008

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  • dansscope:(33PSL-CNSAD),scope:(33PSL-EHESS),scope:(33PSL-PSL_OMEKA),scope:(33PSL-MINES),scope:(33PSL-EFEO),scope:(33PSL-CNSMDP),scope:(33PSL-CHIMIE),scope:(33PSL),scope:("DAU"),scope:(33PSL-CDF),scope:(33PSL-ENS),scope:("33PSL-OBSERV"),scope:("33PSL-ESPCI"),scope:(33PSL-CURIE),scope:(33PSL-ENSBA),scope:("33PSL-ENC"),scope:(33PSL-PSL_STAR),scope:(33PSL-PSL_SFX),scope:("33PSL-EPHE"),scope:(33PSL-ENSAD),primo_central_multiple_fe
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