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Electrical Impedance Tomography by Elastic Deformation

Ammari, Habib ; Bonnetier, Eric ; Capdeboscq, Yves ; Tanter, Mickael ; Fink, Mathias ; Laboratoire ondes et acoustique (LOA) ; Université Paris Diderot - Paris 7 (UPD7) - ESPCI ParisTech - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Laboratoire de Modélisation et Calcul (LMC - IMAG) ; Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF) - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Laboratoire de Mathématiques de Versailles (LMV) ; Université Paris-Saclay - Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) - Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ) ; ANR-06-BLAN-0089, EchoScan, Imagerie médicale haute précision par reconstruction de la carte de conductivité sous perturbation élastique(2006)

ISSN: 0036-1399

HAL CCSD;Society for Industrial and Applied Mathematics, 2008

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