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Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices

Nakamura, Takashi. ; Baba, Mamoru. ; Ibe, Eishi.

Hackensack N.J. London Singapore etc. : World Scientific, 2008

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  • Titre:
    Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
  • Auteur: Nakamura, Takashi.
  • Autre(s) auteur(s): Baba, Mamoru. ;
    Ibe, Eishi.
  • Sujets: Dosimétrie. ;
    WWW * livres électroniques - texte intégral.
  • Éditeur: Hackensack N.J. London Singapore etc. : World Scientific
  • Date de publication: 2008
  • Format: Afin d'accéder au téléchargement du texte et aux fonctionnalités associées, vous devez créer un compte gratuit sur Ebook Central et télécharger sur votre ordinateur le logiciel Adobe Digital Editions..
  • Identifiant: ISBN 9789812778826
  • Source: École normale supérieure (catalogue)

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  • dansscope:(33PSL-CNSAD),scope:(33PSL-EHESS),scope:(33PSL-PSL_OMEKA),scope:(33PSL-MINES),scope:(33PSL-EFEO),scope:(33PSL-CNSMDP),scope:(33PSL-CHIMIE),scope:(33PSL),scope:("DAU"),scope:(33PSL-CDF),scope:(33PSL-ENS),scope:("33PSL-OBSERV"),scope:("33PSL-ESPCI"),scope:(33PSL-CURIE),scope:(33PSL-ENSBA),scope:("33PSL-ENC"),scope:(33PSL-PSL_STAR),scope:(33PSL-PSL_SFX),scope:("33PSL-EPHE"),scope:(33PSL-ENSAD),primo_central_multiple_fe
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